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Publications

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    in «MICROELECTRONIC ENGINEERING»,
    vol. 136,
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  3. Mulloni, Viviana; Margesin, Benno; Farinelli, Paola; Marcelli, Romolo; Lucibello, Andrea; De Angelis, Giorgio,
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  4. Cazzorla, A.; Farinelli, P.; Sorrentino, R.; Margesin, B.,
    in «MICROELECTRONICS RELIABILITY»,
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  5. Faverzani, M.; Day, P. K.; Falferi, P.; Ferri, E.; Giachero, A.; Giordano, C.; Leduc, H. G.; Maino, M.; Marghesin, B.; Mezzena, R.; Nizzolo, R.; Nucciotti, A.; Puiu, A.,
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  6. Biassoni, M.; Brofferio, C.; Capelli, S.; Cassina, L.; Clemenza, M.; Cremonesi, O.; Faverzani, M.; Ferri, E.; Giachero, A.; Gironi, L.; Giordano, C.; Gotti, C.; Maino, M.; Margesin, B.; Nucciotti, A.; Pavan, M.; Pessina, G.; Previtali, E.; Puiu, A.; Sisti, M.; Terranova, F.,
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  7. J. Iannacci,
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    2015 XVIII AISEM Annual Conference,
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